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上海凌亮光电科技有限公司专业提供AOI自动光学检测设备： 可广泛应用于PCB、LCD、触控面板、玻璃、LED芯片等产业。可以提供PCB外观检测机,玻璃外观检测机, 自动点灯检测机,LCD 自动光学检测,LCM 自动光学检测,CF AOI,Mura AOI,Burr Check,LCM API,框胶检测机,PI检测机,TP AOI等等
检测设备有：外观光学六面检测设备Exterior Multi-Side AOI；
保护玻璃自动光学检测设备 Cover Glass AOI；
LCM 来料检查机/ 最终成品检查机LCM AOI/ Final Test API；
触控玻璃表面外观检查机TP sensor surface AOI-After Cutting；
切割前 触控面板 玻璃检查机 Touch Panel AOI- Before Cutting；
彩色滤光片自动光学检测设备CF AOI；
TFT-LCD 制程缺陷自动复检设备CF ARM；
Mura 缺陷自动光学检测设备；
配向膜自动光学检测设备PI AOI；
框胶制程自动光学检测设备Seal AOI；
点灯检测设备LCD/LCM API；
In-Line OD/膜厚/色度自动量测设备；
毛边自动光学检测设备Burr Check；
偏光膜光学检测设备Polarizer AOI。
可以检测项目：制程缺陷——蚀刻异常、图形缺陷、线路open 、short，表面缺陷——表面脏污、表面刮伤，裂片缺陷——崩边、崩角；
适于LCD 彩色滤光片制程，如黑框(BM)，RGB彩色膜、铟锡氧化物薄膜( ITO)、MVA、PS和INS等制程；
适于 TFT-LCD各制程，如黑框(BM)、RGB彩色膜、铟锡氧化物薄膜( ITO)、MVA、PS、INS 、PI、SEAL 及 Touch panel 等制程；
针对涂布后、曝光前所产生之Mura，同时亦能判别TFT-LCD Color Filter 全部制程后和Touch Panel、PI制程后之Mura；PI Shift、膜内Particle；
Au Shift / Miss、Seal Shift / Broken / Width、膜内Particle；
灰阶不均缺陷(Mura)、亮/暗点、亮/暗线；
OD量测 --- BM、膜厚量测 --- OC、PS、色度量测 --- R、G、B。
可检测缺陷：表面刮伤、锯齿、亮点、白点、油墨；IR孔亮点、溢墨、凹痕、凹点、油墨内污、边崩；暗点、亮线、暗线、黄框、显示不均；ITO架桥(断/缺少), 金属线路(开口/短路), ITO(蚀刻异常/电阻残留/短路), metal架桥(断线/缺少)、铝残留、刮伤、裂伤、粉尘；TAC scratch, foreign material, crumple, cross type defec。
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